首页 > 资讯 > 科技 > 国内动态 > 正文 
 
  长岭纺电光学图像法测量棉纤维杂质技术获国家专利
2010-12-22
分享至:

      陕西长岭纺电公司自主研制开发的快速棉纤维性能测试仪产品填补了国内空白,日前,应用于该产品的光学图像法测量棉纤维杂质的装置技术研制成功,并获得国家知识产权局专利授权。

  长期以来,我国纤维检验部门和纺织企业对棉纤维的杂质测量采用机械式分离杂质的称重法,这种方法的缺点是测量速度很慢,不能有效测量棉纤维中的叶屑杂质,不能满足棉花质量检验的快速测量要求。长岭纺电公司自主研制设计了一种光学图像法测量棉纤维杂质的装置,以实现棉花质量检测的需要。光学图像法测量棉纤维杂质装置主要由标准光源、光学系统、图像采集卡、计算机及专用的杂质图像处理软件等组成。该技术具有测试窗口,其两侧对称的装有标准光源并与测试窗口聚成一定角度,其下方装有镜头并通过光学调节器于摄像机连接,光源采用对称、同功率、同色温的卤钨灯,从与被测棉纤维表面法线一定角度方向照射被测棉纤维,保证测试窗口照度良好均匀,在光学系统的接收光路上装置了光阑,有助于减少外界杂散光进入棉纤维色泽光学系统。这项专利技术确保了标准光源的稳定、测试窗口光照的稳定均匀,光学调节器的设计和被测棉纤维的杂质图像清晰准确,专门的棉纤维杂质图象处理软件,通过用标准的白板和杂质板对仪器进行较准,完成对被测棉纤维表面杂质粒数和杂质面积相对百分率的准确测量,并对杂质进行分级。

  据悉,该项专利技术已成功地应用在长岭纺电公司最新开发生产的XJ128快速棉纤维性能测试仪产品上,保证了该产品测试棉纤维杂质性能指标的快速全面准确,自动化程度高,测试指标稳定可靠。

(中国纺织报)(E07)

声明:凡于本网文章前标有“CTEI网讯”之文章即表示为本网原创、编译、第一信息源、第一媒体合作方等,如需转载请务必标注文章来源自“中国纺织经济信息网 www.ctei.cn”,本网保留法律权利。
相关文章
 
  更多>
  更多>
0412.jpg
中央社会工作部召开全
sy.jpg
趣看文物|“纹”见少
sy.jpg
华夏衣冠,跨越千年!
sy1.jpg
2024中国纺联春季联展
sy.jpg
“数”说纺织:2023年
图区.jpg
CTEI祝纺织同仁新春快

合作媒体:《纺织服装周刊》 《家纺时代》 《中国纺织》 《中国经济网》

©中纺网络信息技术有限责任公司版权所有 京ICP备11016217号-29

业务咨询: ctei@cntac.org.cn